Noticias | Naturales | Física

Noticia completa en ABC (España)

Las técnicas de microscopía superaron hace décadas los sistemas de lentes y espejos con los que trabajó Ramón y Cajal. El objetivo último ya no son las amebas o los paramecios de las charcas, ni las plumas del jilguero del laboratorio infantil. Desde hace varios años, la frontera de la microscopía está en el átomo; más allá sólo quedan las partículas subatómicas, pero ese es ya el dominio de los aceleradores.

Utilizando al límite de sus actuales posibilidades uno de los llamados microscopios de proximidad, el AFM o microscopio de fuerzas atómicas (por sus siglas en inglés, Atomic Force Microscopy), un equipo de investigadores con presencia española ha desarrollado un método que, por primera vez, permite la identificación química de átomos superficiales individuales.

En la investigación han participado, entre otros, los científicos de la Universidad Autónoma de Madrid Rubén Pérez y Pablo Pou, y en la parte experimental, el director ha sido el también español Óscar Custance, desde su puesto en la Universidad de Osaka (Japón), donde lleva más de cinco años.
Innumerables posibilidades

Las conclusiones de su estudio, publicado en el último número de la revista «Nature», demuestran las grandes posibilidades de este método aplicado a cualquier tipo de superficie compuesta de elementos químicos diferentes. Esta técnica dota al microscopio de fuerzas atómicas (AFM) de innumerables posibilidades.

Rubén Pérez precisa para ABC que el primero de los microscopios de proximidad fue el denominado STM o de «efecto túnel de barrido» (por sus siglas inglesas, Scanning Tunneling Microscopy), por cuyo desarrollo Gerd Binning y Heinrich Rohrer recibieron el premio Nobel de Física en 1986, que permite ver y manipular átomos individuales en superficies conductoras.

En cuanto al microscopio AFM, extiende esas capacidades a todo tipo de superficies, ya sean metálicas, semiconductoras o aislantes, y puede operar también en todo tipo de ambientes, incluidos los líquidos.
El funcionamiento de un AFM se basa en la interacción que sufre la superficie de un material con una punta afilada (una pirámide invertida) de tamaño micrométrico, que está montada en el extremo de un fleje, llamado «cantilever».